| 1997年6月27日（平成9年） |
システム精工株式会社（代表取締役小埜寺正臣）の株式公開準備により、同社の持ち株会社として有限会社コアシステム設立。
初代の代表取締役小埜寺美季、小埜寺正臣取締役兼任。 |
| 1999年11月（平成11年） |
小埜寺正臣システム精工株式会社代表取締役辞任。 |
| 2001年11月（平成13年） |
株式会社コアシステムに組織変更。
資本金1,000万円、代表取締役小埜寺正臣就任。 |
| 2002年1月（平成13年） |
2002（平成14）年1月、新潟県知事より「中小企業経営革新支援法」承認受ける。
3月、(財)新潟県中小企業振興公社より直接投資2,000万円（株式500万円転換社債1,500万円）受ける。 |
| 2002年3月13日（平成13年） |
特許「形状測定装置」出願。 |
| 2002年3月28日（平成13年） |
「レーザ走査表面形状検査機」第1号機を、国内大手電機メーカにコピードラム用検査機として出荷販売。 |
| 2002年7月（平成13年） |
(財)光産業技術振興協会より、委託開発プロジェクト「レーザ走査方式による表面形状測定装置の開発」2年間委託開発費12,600,000円。 |
| 2002年12月（平成13年） |
新潟産業創造ファンド一号投資事業有限責任組合より、直接投資2,000万円、受ける。 |
| 2004年3月（平成16年） |
“DISKCON 2004 U.S.A.”（於）（San Francisco / San Jose CA. U.S.A.）「レーザ表面形状検査機」出展。 |
| 2004年3月（平成16年） |
磁気DISK表面形状検査機第1号機を米国Komag社に出荷販売。 |
| 2004年5月（平成16年） |
長岡技術科学大学工学部電気系液晶デバイス研究室、赤羽正志教授、木村宗弘准教授と3年間の産学共同研究契約締結。
研究内容「有機薄膜の大面積トポロジー評価技術確立」。
研究成果「レーザ表面形状検査機（レーザ光源赤色半導体波長655ｎｍ）」により「液晶の配向状態のデジタル画像データを、世界で初めて採取成功」 |
| 2004年6月（平成16年） |
株式会社栄興業（本社岐阜県）より第3者割当増資1,500万円を受けて、合計資本金5,400万円となる。 |
| 2004年8月（平成16年） |
韓国の国際液晶学会で長岡技術科学大学准教授木村宗弘先生が論文発表。
“Novel surface profiler system for inspection of flat panel display”
「液晶の配向状態のデジタル画像データを、世界で初めて採取成功」発表。
（液晶パネルの表面ガラスがない状態の表面形状3D画像データ） |
| 2004年10月（平成16年） |
米国大手HDDメーカSeagate社に磁気DISK表面形状検査機第2号機を出荷販売
液晶用表面形状検査機第1号機を長岡技術科学大学に共同研究用を納入。 |
| 2005年2月（平成17年） |
IEEEE Transaction on Volume 41,Issue 2.Feb.2005
Page(s)632-635 “Effect of Radial Curvature of Magnetic Media on Glide
Avalanche” S. Suzuki, K. Adachi, R. Mori and E. Casey Komag Inc.
（Komag 社に出荷販売したレーザ検査機による、DISK外径エッジ部形状測定データなど論文を、IEEEで上記同社開発者が論文発表） |
| 2005年6月（平成17年） |
米国Seagate社に、高性能DISK表面形状検査機を出荷販売。 |
| 2005年8月（平成17年） |
国内大手フイルムメーカ技術研究所に表面形状検査機出荷販売。 |
| 2005年12月（平成17年） |
SEMICON Japan 2005 に「レーザ表面形状検査機」出展 |
| 2006年4月（平成18年） |
国内大手CMP装置製造メーカに「レーザ表面形状検査機」を出荷販売 |
| 2006年6月（平成18年） |
特許第3810749号「形状測定装置」登録。
半導体業界を初め、客先より「測定評価テスト」引合増加。 |
| 2006年7月（平成18年） |
(財)地域総合整備財団より、「レーザ走査式超高感度大面積微細形状評価技術の検証機の開発」支援補助金1,000万円を受ける。 |
| 2007年7月（平成19年） |
長岡技術科学大学工学部電気系液晶デバイス研究室、赤羽正志教授、木村宗弘准教授と2年間の産学共同研究契約締結。
「有機薄膜の大面積トポロジー解析-Ⅱ」 |
| 2007年8月（平成19年） |
「超伝導素材用レーザ表面形状検査機」を国内大手素材メーカに出荷販売。 |
| 2007年12月（平成19年） |
SEMICON Japan 2007「レーザ走査表面形状検査機」出展。 |
| 2008年11月（平成20年） |
「450mmウエハ用レーザ表面形状検査機」を、国内大手検査機メーカにOEM出荷販売。 |
| 2008年11月（平成20年） |
「平成20年度関東地域特許表彰で中小企業長官賞受賞（発明者：篠﨑亮、岩田哲也）並びに（財）発明協会より、実施功労賞受賞（小埜寺正臣） |
| 2009年10月（平成21年） |
レーザ走査表面形状検査機の新シリーズ技術間発“CSYS”シリーズ完成発表。 |
| 2010年3月（平成22年） |
社を「新潟県長岡市西宮内2丁目144」に移転登記。 |
| 2010年12月（平成22年） |
SEMICON Japan 2010「レーザ走査表面形状検査機」パネル出展。 |
| 2011年3月（平成23年） |
「MEMS用ウエハのレーザ走査表面形状検査機」を国内大手情報機器メーカに出荷販売。 |
| 2011年4月（平成23年） |
「不平衡電圧を利用した系統連系インバータの単独運転検出法」の共同研究開発を、長岡技術科学大学工学部電気系助教工学博士芳賀仁先生と開始。 |
| 2011年11月（平成23年） |
新潟産業創造ファンド一号投資事業有限責任組合の、投資期間終了のため取締役会の承認を受けて、小埜寺正臣が同ファンドの株式を買取。 |
| 2011年12月（平成23年） |
SEMICON Japan 2011「レーザ走査表面形状検査機」パネル出展。 |
| 2012年4月（平成24年） |
「レーザ走査表面形状検査機“CSYS 12”シリーズCSYS 12-100, CSYS 12-200, CSYS 12-300, CSYS 12-450,4機種（Φ25～Φ450mm対応）ラインアップ発表。 |
| 2012年12月（平成24年） |
SEMICON Japan 2012 / PV Japan 2012「レーザ走査表面形状検査機」パネル出展。 |
| 2013年7月（平成25年） |
「平成25年度長岡市新エネルギー開発支援補助金」に「新方式の系統連系単独運転検出インバータ装置開発」採択される（補助金325万円） |
| 2013年10月（平成25年） |
長岡技術科学大学と「共同研究契約」締結。「新方式の系統連系単独運転検出インバータ装置開発」期間1年間。 |
| 2014年3月（平成26年） |
長岡市に「平成25年度長岡市新エネルギー開発支援助金」の長岡技科大との共同研究成果報告書を提出。
審査を経て、補助金の確定を受ける。 |
| 2014年4月（平成26年） |
「平成26年度長岡市新エネルギー開発支援補助金」「新方式の系統連系単独運転検出インバータ装置開発」2年目の申請書提出。 |
| 2014年6月（平成26年） |
「新方式の系統連系単独運転検出インバータ装置開発」２年目の審査ヒヤリングを経て、平成26年度補助金交付決定される。 |
| 2014年7月8日（平成26年） |
「レーザ走査表面形状検査機」を、コピードラム表面形状検査機として技術開発1号機納入後、磁気DISK表面形状検査機に対応、更に半導体Siウエハ表面形状検査に対応して実績10年。
市場の要求仕様の変化と透明体など新素材対応の課題が大きいので、新しいレーザ走査方式の開発を進め、特許申請を行った。「特許出願番号平26.7.8.特願2014-140926」発明の名称「形状測定装置」 |
